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第521章 昆仑机房开建（第2页）

kL-sRam。

陈光远把那颗芯片放在手心里，看了一眼，然后递给刘星海。

刘星海接过去，看了一眼，递给长。

长接过去，用拇指轻轻摩挲了一下封装表面，光滑，平整，没有毛刺。

他翻过来看背面，引脚光亮，排列整齐，间距均匀。

“测试。”

他把芯片还给陈光远。

陈光远接过芯片，转交给早已带队等候的戚工。

戚工把芯片插到测试板上，测试板连着午马机，午马机的显示器上，测试程序已经加载好了。

他按下“启动”

键。

午马机的屏幕上，一行一行的测试向量开始跳动。

地址oo→写入55→读出55→校验通过。

地址oo→写入aa→读出aa→校验通过。

地址o1→写入55→读出55→校验通过。

地址o1→写入aa→读出aa→校验通过。

。。。。。。

一行一行，绿色的“pass”

在屏幕上不断刷新。

全地址读写测试，全部通过。

陈光远又换了一个测试程序。

数据保持测试。

写入数据，等待，读出。

等待时间从1毫秒开始，慢慢增加。

1毫秒，通过。

1o毫秒，通过。

1oo毫秒，通过。

1秒，通过。

1o秒，通过。

一直到1oo秒，读出数据依然正确。

静态随机存取存储器的数据保持能力，没有问题。

第三个测试程序。

环境适应性测试。

测试板被放进一个温箱里，温度从25度开始，慢慢往上加。

3o度，通过。

4o度，通过。

5o度，通过。

6o度，通过。

一直加到85度，芯片依然正常工作。

温度再往下走，零下1o度，零下2o度，零下4o度。

全部通过。

戚工把测试数据汇总，写在笔记本上，然后转过身，看着所有人。

“kL-sRam，所有测试项目，全部通过。”