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第527章 星河CAD（第2页）

封装问题:4颗

“存储单元失效的18颗芯片，位图显示某些地址永远读不出正确数据。切片分析现，失效的存储单元集中在晶圆边缘，光刻胶厚度不均导致的晶体管尺寸偏差。”

他在晶圆示意图的边缘画了几个叉。

“存储单元的性能取决于晶体管尺寸、掺杂浓度的精确匹配。工艺波动导致的随机失效，无法用仿真预测。”

他又画了一个地址译码器的时序图。

“地址译码错误的9颗芯片，问题出在译码器的竞争。地址切换时，译码器输出端出现了短暂的错误地址，导致误访问。这个毛刺宽度只有几纳秒，在仿真中被忽略了。”

“保持时间不足的7颗芯片，存储单元的电荷泄漏太快。原因是存储节点的寄生漏电比模型大了将近一倍，仿真时假设理想绝缘。”

他放下粉笔，转过身。

“存储芯片的失效模式非常复杂，分布式系统能做的仿真有限。很多问题，只有流片回来实测才能现。”

宋颜点了点头，看向戚工：“产品中心有什么补充的吗？”

。

戚工站起来，走到黑板前：“我来补充一些测试中心方面的，分布式辅助系统仿真覆盖不到的问题。”

他在黑板上写了几行字。

亚稳态：3颗芯片出现莫名其妙的错误，复现极其困难。

复位问题：2颗芯片上电后状态机死锁。

多时钟域：4颗芯片跨时钟域同步失败。

罕见输入序列：1颗芯片在某条极特殊的指令下死机。

戚工指着第一行：“触器的输出在时钟沿附近变化时，会进入一种不确定的状态。这个状态可能在几个纳秒后稳定，也可能持续几百纳秒。仿真假设触器输出永远是稳定的，无法模拟亚稳态。”

他画了一个触器的时序图，在时钟沿附近标了一个不确定的区域。

“测试中现的错误，大概率是亚稳态导致的。概率很低，复现极难。”

他指着第二行：“上电后，复位信号释放的时刻和时钟沿接近，导致触器进入亚稳态。仿真中通常假设复位信号在时钟沿之间稳定变化，没有模拟这种边界情况。”

他指着第三行：“芯片内部有多个时钟域，跨时钟域的信号需要同步器来消除亚稳态。实测现，同步器的设计有缺陷，数据丢失。”

他在图上画了两个时钟域，中间加了一个同步器。

“仿真模型中的同步器是理想的，假设亚稳态传播时间为零。实际同步器中，亚稳态可能传播几个纳秒，导致数据错误。”

他指着最后一行：“kL-cu有一颗芯片，在执行某条极特殊的指令序列时死机。我们经过极限测试，现概率约在万分之一，跑了几万条指令才触一次。仿真时间有限，不可能跑完所有输入组合。”

他放下粉笔，看着台下。

“这些问题，都是分布式系统无能为力的。系统能验证设计是否正确，但验证不了在真实物理世界中的行为。”

陈光远站起来，走到黑板前。

“除了以上内容，我再补充一些工艺波动与制造偏差之间的问题。”

他在黑板上画了一个晶圆，标了几个区域。