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第507章 接口芯片测试（第6页）

最后九颗测完，又淘汰了两颗。

一颗是信号质量太差，上升沿到了4o纳秒，振铃严重；另一颗是静态电流标，比设计值大了将近一倍。

周建国把最终的数字统计出来，递给诸葛彪：“环网芯片，51颗测完，通过4o颗，淘汰11颗。通过率78。4%。”

诸葛彪接过表格看了一眼，点了点头，然后把表格递给吕辰。

吕辰扫了一眼，数字比他预想的要好。

这些芯片是第一次流片，而且逻辑设计是在其他单位用标准单元库搭的，版图是红星所画的，中试线是第一次跑这种复杂度的芯片。

78。4%的通过率，说明设计是成功的，工艺是成熟的，团队是有能力的。

诸葛彪看了看表，已经快七点了：“今天来不及了，星型芯片明天再测。”

“行。”

吕辰把表格放在实验台上，“明天一早继续。环境与压力测试的安排呢？”

诸葛彪从实验台下面抽出一张纸，上面写着密密麻麻的安排。

连续运行测试、电源拉偏、温度测试、电磁干扰测试，每一项都写了测试方法、持续时间、责任人、复核人。

“七十二小时连续运行，从明天晚上开始，三班倒，每人盯八小时。”

诸葛彪指着纸上的一行字，“电源拉偏，从4。5V到5。5V，每o。1V一个档位，测功能和时序。温度测试，用热风枪从25度加热到85度，每1o度测一次，记录时序变化。电磁干扰测试，在实验室里用电机和继电器产生强电磁场，看芯片会不会死机或乱码。”

吕辰一条一条地看下去，每一条都写得很清楚，测试方法、判定标准、记录要求，一应俱全。

“好。”

他把纸还给诸葛彪，“第二小队的系统级联调什么时候开始？”

“明天下午。”

诸葛彪说，“等星型芯片的功能验证走完，就把两块板子搭起来，先测双机通信，再测三机环网，最后接存储机柜仿真器。”

吕辰点了点头，转身看向第一小队的六个人。

周建国正趴在实验台上整理测试数据，大张海在收拾稳压电源的线缆，高函在核对笔记本上的记录，赵保成、孙明樟、罗燕三个人在把通过测试的芯片从测试板上拔下来，一颗一颗地放回防静电盒里，每一个盒子上都贴着标签，写着芯片型号、编号、测试日期、测试人员签名。

“今天辛苦大家了。”

吕辰说，“回去好好休息，明天还有硬仗。”

周建国抬起头，笑了笑：“不辛苦，吕工。这比画版图有意思多了，画版图的时候不知道芯片能不能用，现在看着它跑起来，心里踏实。”

其他几个人也笑了，笑声不大，但很实在。

回到家的时候，其他人都不在。

娄晓娥抱着小吕晓在堂屋里坐着，小家伙已经睡着了，小脸红扑扑的，嘴巴微微张着。

“他们呢？”

“去赵四海师父家了，吃了没？”

“还没。”

“锅里给你留着饭，自己去盛。”

吕辰走进厨房，揭开锅盖，里面温着一碗米饭、一盘红烧肉、一碗白菜豆腐汤。